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            3D 粗糙度重建系統

            更新時間:2024-01-02
            產品型號:
            所屬分類:拓展軟件
            描述:通過 3D 粗糙度重建系統軟件,飛納臺式掃描電鏡能夠產生二維圖像和進行亞微米粗精度測量從一個 2D 平面圖像里區分凹痕,劃痕,毛刺等通常很閑難。3D 圖像直觀,能被大多數用戶接受并能更好的解釋樣品特點。測量平均粗糙度和粗糙高度對于了解和控制生產過程很關鍵,相對于傳統的(間接) 測量手段,3D 粗精度重建軟件通過分析電鏡圖像,能夠獲得更高的精度。
            詳情介紹

            借助 3D 粗糙度重建系統,飛納臺式掃描電鏡(SEM)可以生成樣品的三維圖像,并進行亞微米量級的粗糙度測量?;凇瓣幱帮@形"技術,3D 成像有助于展示樣品特征。

            3D

            3D 圖像可以幫助用戶更好地理解樣品特點,使得在 2D 圖像中很難分辨的凹坑、劃痕、刻紋等特征,變得清晰可見。 

            粗糙度 

            平均粗糙度(Ra)及粗糙高度(Rz)的測量對于生產工藝的控制和改進具有重要意義。使用 SEM 圖像作為信息收集手段,可以獲得比傳統(非直接)手段更佳的分辨率。3D 粗糙度重建模塊是飛納臺式掃描電鏡的理想擴展,特別適用于下列領域: 

            • 機械加工的質量控制 

            • 紋理分析 

            • 證物鑒定 

            • 缺陷 & 失效分析 

            • 摩擦學-磨損分析

            3D 粗糙度重建系統可在包含多個飛納臺式掃描電鏡(SEM)特定應用程序的 Phenom ProSuite 中獲得。 

            3D 粗糙度重建系統的主要優點:

             • 遠優于光學或機械測量手段 

                - 高分辨率

                - 可測量反光樣品 

                - 直接測量

                - 非破壞性 

            • 創新性全自動用戶界面 

            • 基于“陰影顯形",無需傾斜樣品 

            • 完整解決方案 

            • 快速重建

            • 直觀的用戶界面

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